EC-AFM原子力显微镜系列

FM-Nanoview EC-AFM环境控制型原子力显微镜同时具备光学显微镜和原子力显微镜成像功能，两者可同时工作，互不影响,可同时在普通空气环境、液体环境、温度控制环境、惰性气体控制环境下工作,高倍光学定位系统，实现探针和样品扫描区域精确定位

EC-AFM环境控制型原子力显微镜（光学金相显微镜原子力一体机）
EC-AFM环境控制型原子力显微镜规格参数 EC-AFM环境控制型原子力显微镜应用方向

产品信息

EC-AFM环境控制型原子力显微镜产品特点

  • 光学金相显微镜和原子力显微镜一体化设计，功能强大
  • 同时具备光学显微镜和原子力显微镜成像功能，两者可同时工作，互不影响
  • 可同时在普通空气环境、液体环境、温度控制环境、惰性气体控制环境下工作
  • 样品扫描台和激光检测头封闭式设计，内部可充放特殊气体，无需增加密封罩
  • 激光检测采用了垂直光路设计，配合气液两用型探针架可在液体下工作
  • 单轴驱动样品自动垂直接近探针，使针尖垂直于样品扫描
  • 马达控制加压电陶瓷自动探测的智能进针方式，保护探针及样品
  • 超高倍光学定位系统，实现探针和样品扫描区域精确定位
  • 集成扫描器非线性校正用户编辑器，纳米表征和测量精度优于98%

应用案例

EC-AFM环境控制型原子力显微镜应用方向

技术参数

EC-AFM原子力显微镜技术参数

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