研究级材料检测显微镜CM40BD采用全新半复消技术,集明场,暗场及偏光等多种照明方式,任何观察都能呈现清晰锐利的显微图像,或根据实际应用进行功能选择,是工业检测的有效工具。特别是针对中小尺寸的半导体FPD检查,线路板切片测量,晶圆检测同时该产品还适用于金相材料,高分子材料的分析检测,本机配备了偏振系统包括了起偏镜插板和检偏镜插板,可做偏光检测,在半导体和PCB检测中,可消除杂光,细节更加清晰。360度旋转式检偏器可以在不移动标本的情况下,方便的观察标本在不同偏振角度光线下呈现的状态.同时可以在在正交偏光的基础上,插入DlC棱镜,可进行DIC微分干涉相衬观察。DIC技术可以使物体表面微小的高低差产生明显的浮雕效果,大幅提高图像对比度,特别适合观察导电粒子。
性能特点
2、配置了落射与透射两套照明系统,可观察透明及不透明材料;
3、配置了内置推拉式检偏器与起偏器,适合观察高反光材料的表面;
4、本机可选购干涉系统,做微分干涉观察获得具有浮雕效果的立体像;
5、本机采用高亮度5WLED照明,观察舒适使用寿命长,不发热。
显微镜参数
序号 | 名称 | 技术参数 |
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1 |
平场目镜 |
高眼点大视野目镜PL10X23mm |
2 |
无限远长工作距明暗场半复消色差金相物镜5X NA0.15 WD14.35 无限远长工作距明暗场半复消色差金相物镜10X NA0.30 WD8.5 无限远长工作距明暗场半复消色差金相物镜20X NA0.40 WD10.8 |
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3 |
光学放大倍数 |
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4 |
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5 |
观察头 |
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6 |
转换器 |
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7 |
调焦机构 |
透反射用机架, 低手位粗微同轴调焦机构。粗调行程35mm,微调精度0.001mm。带有防止下滑的调节松紧装置和随机上限位装置。内置100-240V宽电压系统,采用数字调光,具有光强设定与复位功能 |
8 |
平台面积 310*240mm移动行程:150mmX100mm机械平台,X、Y方向同轴调节; |
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9 |
偏光组件 |
起偏镜插板,360°旋转式检偏镜插板 |
10 |
反射照明系统 |
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11 |
透射照明系统 |
5W可调LED灯室,透、反射通用,预定中心 |
12 |
聚光镜 |
摇出式消色差聚光镜(N.A.0.9) |
13 |
摄像接口 |
0.65倍专用摄像接口 |
14 |
干涉组件 |
微分干涉板(选购) |
15 |
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16 |
拍照,录像,测量,实时图像拼接,景深融合等(选购) |
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17 |
标尺 |
高精度型测微尺,格值0.01m 总长1mm(选购) |