科研级三目倒置金相显微镜VM3600I采用优良的无限远半复消色差光学系统60mm多功能、模块化的设计理念,带有偏光装置,并可选配暗场装置、DIC微分干涉装置实现暗场和微分干涉等特殊观察。紧凑稳定的高刚性主体,充分体现了显微镜操作的防振要求。
详细MX8R三目明暗场微分干涉工业检测显微镜配置了落射与透射照明系统、明暗场半复消金相物镜、内置偏光观察装置,具有图像清晰、衬度好,造型美观,操作方便等特点,配备了高性能DIC组件,可以将明场观察下无法检测的细微高低差,转化为高对比度的明暗差并以立体浮雕新式表现出来,广泛用于LCD导电粒子,精密磁盘表面划痕检测等领域
详细VM2200M适用于对不透明物体进行显微观察,本仪器配置落射照明器、长距平场消色差物镜(无盖玻片)、大视野目镜和内置偏光观察装置,具有图像清晰、衬度好,操作方便等特点,是金属学、矿物学、精密工程学、电子学等研究的理想仪器。
详细VM4800M 采用优良的无限远光学系统与模块化功能设计理念,可以方便升级系统,仪器配有偏光装置可实现偏光观察同时可选配暗装置及微分干涉装置。适用于薄片试样的金相、矿相、岩相、晶体等结构分析和鉴别,电子芯片的检查或用于观察材料表面特性,如:划痕、裂纹、喷涂的均匀性等及纺织纤维、化学颗粒的分析研究。是生物学、金属学、矿物学、精密工程学、电子学等研究的理想仪器。
详细VM4600M 三目正置大平台金相显微镜配有大范围移动的载物台、柯拉落射照明系统、长距平场物镜、大视野目镜,图像清晰、衬度好,同时配有偏光装置,可实现偏光观察。适用于薄片试样的金相、矿相、岩相、晶体等结构分析和鉴别,电子芯片的检查或用于观察材料表面特性
详细VM4000M采用优质的无限远光路系统,配置了落射与透射照明系统、无限远长距平场消色差物镜、内置偏光观察装置,具有图像清晰、衬度好,造型美观,操作方便等特点,能分别对不透明物体或透明物体进行显微观察,尤其适合观察金相组织分析金属、矿相内部结构组织观察材料表面。
详细VM3000I 三目倒置金相显微镜采用优良的无限远光学系统与多功能、模块化的设计理念,仪器带有偏光装置,并可选配暗场装置、DIC微分干涉装置实现暗场和微分干涉等特殊观察。
详细VM2300M 三目透反射金相显微镜配置了透射、落射照明装置,既可以观察金属材料的金相组织结构,也可以观察半透明,以及不透明的生物标本。采用了平场消色差物镜和大视野目镜,具有成像清晰,视野广阔,操作方便等特点。
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