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CM120BD-AF研究级电动12寸大平台半导体芯片晶圆LCD检查金相显微镜
研究级电动12寸大平台半导体检查显微镜CM120BD广泛应用于芯片/晶圆/LCD，粒子爆破检查等行业使用。采用半复消技术，集明场，暗场及偏光等多种照明方式，任何观察都能呈现清晰锐利的显微图像，其微分干涉效果可与进口品牌相媲美。用户可根据实际应用进行功能选择，是工业检测的有效工具。机器采用电动转换器，物理按钮和软件双控，进行远位数调节，12寸大工作平台特别是针对线路板切片测量，晶圆检测，金相材料，高分子材料等尺寸较大的样器进行分析检测，本机配备了偏振系统可做偏光检测，在半导体和PCB检测中，可消除杂光，细节更加清晰。同时可以选配DIC干涉附件插入DlC棱镜，可进行DIC微分干涉相衬观察。DIC技术可以使物体表面微小的高低差产生明显的浮雕效果，大幅提高图像对比度，特别适合观察导电粒子。
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CM120BD研究级12寸大平台金相显微镜硅片半导体检测
研究级12寸大平台半导体检查显微镜CM120BD广泛应用于芯片/晶圆/LCD，粒子爆破检查等行业使用。采用半复消技术，集明场，暗场及偏光等多种照明方式，任何观察都能呈现清晰锐利的显微图像，其微分干涉效果可与进口品牌相媲美。用户可根据实际应用进行功能选择，是工业检测的有效工具。特别是针对线路板切片测量，晶圆检测，金相材料，高分子材料等尺寸较大的样器进行分析检测，本机配备了偏振系统可做偏光检测，在半导体和PCB检测中，可消除杂光，细节更加清晰。同时可以选配DIC干涉附件插入DlC棱镜，可进行DIC微分干涉相衬观察。DIC技术可以使物体表面微小的高低差产生明显的浮雕效果，大幅提高图像对比度，特别适合观察导电粒子。
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CM80BD-AF电动研究级金相显微镜晶圆检测半导体FPD检查
电动研究级材料检测显微镜CM80BD-AF采用全新半复消技术，集明场，暗场及偏光等多种照明方式，任何观察都能呈现清晰锐利的显微图像，或根据实际应用进行功能选择，是工业检测的有效工具。机器采用电动转换器，物理按钮和软件双控，进行远位数调节。8寸大平台特别是针对大尺寸的半导体FPD检查，线路板切片测量，晶圆检测同时该产品还适用于金相材料，高分子材料的分析检测，本机配备了偏振系统包括了起偏镜插板和检偏镜插板，可做偏光检测，在半导体和PCB检测中，可消除杂光，细节更加清晰。360度旋转式检偏器可以在不移动标本的情况下，方便的观察标本在不同偏振角度光线下呈现的状态.同时可以在在正交偏光的基础上，插入DlC棱镜，可进行DIC微分干涉相衬观察。DIC技术可以使物体表面微小的高低差产生明显的浮雕效果，大幅提高图像对比度，特别适合观察导电粒子。
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CM60BD研究级金相材料检测显微镜
研究级材料检测显微镜CM60BD采用全新半复消技术，集明场，暗场及偏光等多种照明方式，任何观察都能呈现清晰锐利的显微图像，或根据实际应用进行功能选择，是工业检测的有效工具。配有6寸大平台特别是针对大尺寸的半导体FPD检查，线路板切片测量，晶圆检测同时该产品还适用于金相材料，高分子材料的分析检测，本机配备了偏振系统包括了起偏镜插板和检偏镜插板，可做偏光检测，在半导体和PCB检测中，可消除杂光，细节更加清晰。360度旋转式检偏器可以在不移动标本的情况下，方便的观察标本在不同偏振角度光线下呈现的状态.同时可以在在正交偏光的基础上，插入DlC棱镜，可进行DIC微分干涉相衬观察。DIC技术可以使物体表面微小的高低差产生明显的浮雕效果，大幅提高图像对比度，特别适合观察导电粒子。
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VMB2100PH 三目暗视野显微镜
VMB2100PH三目暗视场显微镜，配置可升降阿贝聚光镜和暗场聚光镜，被观察物轮廓清晰。三目数字成像镜筒可自由地切换并采用了优质的光学系统，配置了暗场聚光镜、大视野目镜和平场物镜，视场大而且清晰。
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VMB2000PH三目暗视野显微镜
VMB2000PH带有数字摄像通道，可轻松实现各类图片、视频拍摄的工作需要，机器配置消色差物镜,大视野目镜，具有成像清晰，视野广阔，操作方便、性价比高等特点。
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VMB1600PH 三目暗视野显微镜，两路光路输出，轻松数字成像
VMB1600PH两路光路可同时输出，一路用于观察，一路可用于连接摄像装置并配有消色差物镜，大视野目镜，具有成像清晰，视野广阔，操作方便、性价比高等特点。
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VMB1120PH 三目暗视野显微镜
VMB1120PH 主要用来观察和研究点状、线状的细薄结构的微小透明体的轮廓形状，如：未染色的透明样品，胶体化学领域中观察溶质粒子的布朗运动、观察人体内体液中的螺旋体、尿管形、结晶及细胞内线粒体的运动
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