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CM120BD-AF研究级电动12寸大平台半导体芯片晶圆LCD检查金相显微镜

CM120BD-AF研究级电动12寸大平台半导体芯片晶圆LCD检查金相显微镜

研究级电动12寸大平台半导体检查显微镜CM120BD广泛应用于芯片/晶圆/LCD,粒子爆破检查等行业使用。采用半复消技术,集明场,暗场及偏光等多种照明方式,任何观察都能呈现清晰锐利的显微图像,其微分干涉效果可与进口品牌相媲美。用户可根据实际应用进行功能选择,是工业检测的有效工具。机器采用电动转换器,物理按钮和软件双控,进行远位数调节,12寸大工作平台特别是针对线路板切片测量,晶圆检测,金相材料,高分子材料等尺寸较大的样器进行分析检测,本机配备了偏振系统可做偏光检测,在半导体和PCB检测中,可消除杂光,细节更加清晰。同时可以选配DIC干涉附件插入DlC棱镜,可进行DIC微分干涉相衬观察。DIC技术可以使物体表面微小的高低差产生明显的浮雕效果,大幅提高图像对比度,特别适合观察导电粒子。

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CM120BD研究级12寸大平台金相显微镜硅片半导体检测

CM120BD研究级12寸大平台金相显微镜硅片半导体检测

研究级12寸大平台半导体检查显微镜CM120BD广泛应用于芯片/晶圆/LCD,粒子爆破检查等行业使用。采用半复消技术,集明场,暗场及偏光等多种照明方式,任何观察都能呈现清晰锐利的显微图像,其微分干涉效果可与进口品牌相媲美。用户可根据实际应用进行功能选择,是工业检测的有效工具。特别是针对线路板切片测量,晶圆检测,金相材料,高分子材料等尺寸较大的样器进行分析检测,本机配备了偏振系统可做偏光检测,在半导体和PCB检测中,可消除杂光,细节更加清晰。同时可以选配DIC干涉附件插入DlC棱镜,可进行DIC微分干涉相衬观察。DIC技术可以使物体表面微小的高低差产生明显的浮雕效果,大幅提高图像对比度,特别适合观察导电粒子。

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VMF200I 科研用三目倒置荧光显微镜

VMF200I 科研用三目倒置荧光显微镜

VMF200I由倒置生物显微系统与落射荧光显微系统组成,配置长工作距离平场物镜与大视野目镜。旋转摆入摆出式聚光系统工作距离长,可对高培养皿或圆筒状烧瓶进行无沾染培养细胞观察,也可以进行相衬观察。

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VMB3200A 多功能透反射生物显微镜(配备落射照明装置)

VMB3200A 多功能透反射生物显微镜(配备落射照明装置)

VMB3200A三目多功能透反射生物显微镜配置了落射照明装置,既可以观察透明的生物标本,也可以观察半透明,甚至不透明物体。采用平场消色差物镜和大视野目镜内置偏光观察装置,可做偏光观察。具有成像清晰,视野广阔,操作方便等特点。

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