SWIRM系列短波红外显微镜是专为900–1700nm短波红外波段设计的显微成像设备,采用无限远校正光学系统,配备SWIR专用平场复消色差物镜(5×/10×/20×/50×可选,数值孔径0.14–0.65,工作距离10–37.5mm),搭配高功率LED同轴落射照明(波长1200/1300/1400/1550nm可选)及SWIR短波红外相机(33-500万像素,帧率61.9-753fps,支持视频模式和触发模式),可实现硅片内部缺陷检测、材料穿透成像等半导体制造、材料科学与工业检测场景领域。
详细TZ650E视频连续变倍同轴光显微镜采用平行光路光学系统,使用点光源以确保光线的平行性,平行光路配合无限远物镜有助于获得清晰的显微图像。搭配索尼芯片1200万像素相机,USB3.0接电脑输出可测量拍照录像等图片分析(可以根据需求选配HDMI、USB、WiFi、网口输出的相机)。设备小巧便捷可以根据现场要求定制不同的观测工作方式,适用于材料科学金属和合金分析、聚合物研究;电子行业半导体制造、光学元件检测;教育与研究。
详细研究级电动12寸大平台半导体检查显微镜CM120BD广泛应用于芯片/晶圆/LCD,粒子爆破检查等行业使用。采用半复消技术,集明场,暗场及偏光等多种照明方式,任何观察都能呈现清晰锐利的显微图像,其微分干涉效果可与进口品牌相媲美。用户可根据实际应用进行功能选择,是工业检测的有效工具。机器采用电动转换器,物理按钮和软件双控,进行远位数调节,12寸大工作平台特别是针对线路板切片测量,晶圆检测,金相材料,高分子材料等尺寸较大的样器进行分析检测,本机配备了偏振系统可做偏光检测,在半导体和PCB检测中,可消除杂光,细节更加清晰。同时可以选配DIC干涉附件插入DlC棱镜,可进行DIC微分干涉相衬观察。DIC技术可以使物体表面微小的高低差产生明显的浮雕效果,大幅提高图像对比度,特别适合观察导电粒子。
详细研究级12寸大平台半导体检查显微镜CM120BD广泛应用于芯片/晶圆/LCD,粒子爆破检查等行业使用。采用半复消技术,集明场,暗场及偏光等多种照明方式,任何观察都能呈现清晰锐利的显微图像,其微分干涉效果可与进口品牌相媲美。用户可根据实际应用进行功能选择,是工业检测的有效工具。特别是针对线路板切片测量,晶圆检测,金相材料,高分子材料等尺寸较大的样器进行分析检测,本机配备了偏振系统可做偏光检测,在半导体和PCB检测中,可消除杂光,细节更加清晰。同时可以选配DIC干涉附件插入DlC棱镜,可进行DIC微分干涉相衬观察。DIC技术可以使物体表面微小的高低差产生明显的浮雕效果,大幅提高图像对比度,特别适合观察导电粒子。
详细电动研究级材料检测显微镜CM80BD-AF采用全新半复消技术,集明场,暗场及偏光等多种照明方式,任何观察都能呈现清晰锐利的显微图像,或根据实际应用进行功能选择,是工业检测的有效工具。机器采用电动转换器,物理按钮和软件双控,进行远位数调节。8寸大平台特别是针对大尺寸的半导体FPD检查,线路板切片测量,晶圆检测同时该产品还适用于金相材料,高分子材料的分析检测,本机配备了偏振系统包括了起偏镜插板和检偏镜插板,可做偏光检测,在半导体和PCB检测中,可消除杂光,细节更加清晰。360度旋转式检偏器可以在不移动标本的情况下,方便的观察标本在不同偏振角度光线下呈现的状态.同时可以在在正交偏光的基础上,插入DlC棱镜,可进行DIC微分干涉相衬观察。DIC技术可以使物体表面微小的高低差产生明显的浮雕效果,大幅提高图像对比度,特别适合观察导电粒子。
详细研究级材料检测显微镜CM60BD采用全新半复消技术,集明场,暗场及偏光等多种照明方式,任何观察都能呈现清晰锐利的显微图像,或根据实际应用进行功能选择,是工业检测的有效工具。配有6寸大平台特别是针对大尺寸的半导体FPD检查,线路板切片测量,晶圆检测同时该产品还适用于金相材料,高分子材料的分析检测,本机配备了偏振系统包括了起偏镜插板和检偏镜插板,可做偏光检测,在半导体和PCB检测中,可消除杂光,细节更加清晰。360度旋转式检偏器可以在不移动标本的情况下,方便的观察标本在不同偏振角度光线下呈现的状态.同时可以在在正交偏光的基础上,插入DlC棱镜,可进行DIC微分干涉相衬观察。DIC技术可以使物体表面微小的高低差产生明显的浮雕效果,大幅提高图像对比度,特别适合观察导电粒子。
详细VMB1820A三目生物显微镜配置无限远消色差物镜、大视野目镜,具有成像清晰,视野广阔,操作方便、性价比高等特点。适用于细胞组织、生物制药、医疗卫生、农牧畜牧、纺织纤维、化学颗粒等的观察研究
详细BJX-2000现场金相显微镜,适用于大型工件的现场金相检验与失效分析。不用切割取样,直接在工件上研磨制样、观察、照像。对工件尤其是成品件不产生损伤。提高金属检验效率、完善工厂产品质量控制。同时也可用于实验室金相观察。
详细BJ-D现场金相显微镜,适用于大型工件的现场金相检验与失效分析。不用切割取样,直接在工件上研磨制样、观察、照像。对工件尤其是成品件不产生损伤。提高金属检验效率、完善工厂产品质量控制。同时也可用于实验室金相观察。本仪器可选购配置CCD相机、WIFI无线相机、电子目镜、金相软件,可方便采集、保存、输入现场的图像进行分析研究。
详细VMB2100DF 配置了相衬装置、大视野目镜和平场消色差物镜,视场大而且清晰。主要用于观察活细胞或不染色的组织切片,有时也可用于观察缺少反差的染色样品。也可用于工作场所空气中粉尘测定-石棉纤维浓度,可配纤维观测用目镜测微网,物镜测微尺。
详细VMB1600DF三目相衬显微镜配置消色差物镜,大视野目镜,具有成像清晰,视野广阔,操作方便、性价比高等特点。广泛应用于医学教学实验、观察活细胞及细胞内某些细微结构、共混物结构形态,不染色的组织切片、观察缺少反差的染色样品,液体中各类微小物体。
详细VMB1300DF广泛应用于医学教学实验、观察活细胞及细胞内某些细微结构、共混物结构形态,不染色的组织切片、观察缺少反差的染色样品,液体中各类微小物体。也可用于工作场所空气中粉尘测定-石棉纤维浓度,可配纤维观测用目镜测微网,物镜测微尺。
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