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VMS880DM复消色差视频体视显微镜电子芯片机械零件植物斑马鱼线虫观察
VMS880DM复消色差视频体视显微镜搭载NIS复消色差光学系统，在分辨率、景深、对比度与色彩还原性四大核心领域均实现了“质”的突破，使微小结构与复杂样本细节清晰毕现，实现了对格里诺体视显微镜成像的重新定义。搭配HDP5612显示屏相机图像色彩还原接近原色，提供鼠标操作，出厂配套无线鼠标，保证产品使用灵活方便； 11.6寸1080P液晶屏显示内置测量软件，可拍照录像测量预览图片，U盘存储，支持显示器同步输出，内置工业相机全部需要的功能。
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VMS880A复消色差体视显微镜机械零件线虫斑马鱼观察
VMS880A系列体视显微镜搭载NIS复消色差光学系统，在分辨率、景深、对比度与色彩还原性四大核心领域均实现了“质”的突破，使微小结构与复杂样本细节清晰毕现，实现了对格里诺体视显微镜成像的重新定义。其125mm chao长工作距离设计，创造安全操作空间， 各类操作器械的放心介入，大幅提升活体操作与工业检测效率；无论电子芯片到机械零件，植物形态，或到昆虫翅膀线虫，斑马鱼胚胎发育，都能轻松记录。
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VMS880DL复消色差体视显微镜6.7-50倍缺陷观察
VMS880DL系列体视显微镜搭载NIS复消色差光学系统，在分辨率、景深、对比度与色彩还原性四大核心领域均实现了“质”的突破，使微小结构与复杂样本细节清晰毕现，实现了对格里诺体视显微镜成像的重新定义。其125mm chao长工作距离设计，创造安全操作空间， 各类操作器械的放心介入，大幅提升活体操作与工业检测效率；
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VM3400I数码明暗场倒置金相显微镜带液晶屏幕材料表面内部缺陷晶粒度观察
科研级三目倒置电子金相显微镜VM3400I采用无限远半复消色差光学系统45mm焦距管径。多种观察方式：明场、暗场、偏振光，可选配微分干涉。紧凑稳定的高刚性主体满足显微镜操作的防振，符合人机工程学要求的理想设计，使操作方便舒适，空间广阔。
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VMS207A体视显微镜光源可调6.7-45倍手机维修斑马鱼线虫研究
VMS207A三目双侧光源体视显微镜采用LED上下光源，具有高分辨率，高清晰度和强立体感等特点，放大倍数6.7-45X，变倍连续可调，操作简单、使用方便；双侧LED光源角度可任意调节，LED底光源，光亮柔和，可观察不透明、半透明和透明物体。
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VMS206A体视显微镜双侧光源可调6.5-55倍电路板手机维修解剖镜
VMS206A三目双侧光源体视显微镜配置了高眼点大视野目镜，物镜可连续变倍。具有视场宽广，分辨率高，立体感强，放大倍数6.5-55X，变倍连续可调，操作简单、使用方便；双侧LED光源角度可任意调节，LED底光源，光亮柔和，可观察不透明、半透明和透明物体。
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VMS205A体视显微镜双侧光源可调角度高清立体看反光零件手机维修
VMS205A三目双侧光源体视显微镜采用LED上下光源，具有高分辨率，高清晰度和强立体感等特点，放大倍数连续可调7-45倍，最高可达3.5-180倍；双侧LED光源角度可任意调节，LED底光源，光亮柔和，可观察不透明、半透明和透明物体。
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VMS645A体视显微镜6.7-45连续变倍
VMS645A三目大平板连续变倍体视显微镜配备优质的光学系统和耐用可靠的操作机构。该机型工作距离长，视野清晰范围大，附件齐全操作方便。同时增加了倍率定格功能，让观察更加精确、实用。可广泛应用于医疗卫生，农林地质，电子精密机械等行业和部门，特别适合于LED、PCB检验、冲压电镀检验、电子元件检验等等。同时也适用于生物解剖及昆虫的宏观观察。
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VM2400I编码型倒置金相显微镜带亮度记忆
三目倒置编码金相显微镜VM2400I配置长距明场平场消色差物镜与大视野平场目镜，照明系统采用LED照明方式，视场照明均匀。主要用于鉴定和分析金属内部结构组织，或用于观察材料表面的某些特性，如：划痕、裂纹、喷涂的均匀性等，简单便于理解操作。应用在工厂、实验室和教学及科学领域，是金属学、矿物学、精密工程学研究的理想仪器。可观察5公斤以下不规则样品或者大体积高度样品，可选配数码相机成像、可与金相分析软件配合根据试样特性国标出金相分析报告。
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CM120BD-AF研究级电动12寸大平台半导体芯片晶圆LCD检查金相显微镜
研究级电动12寸大平台半导体检查显微镜CM120BD广泛应用于芯片/晶圆/LCD，粒子爆破检查等行业使用。采用半复消技术，集明场，暗场及偏光等多种照明方式，任何观察都能呈现清晰锐利的显微图像，其微分干涉效果可与进口品牌相媲美。用户可根据实际应用进行功能选择，是工业检测的有效工具。机器采用电动转换器，物理按钮和软件双控，进行远位数调节，12寸大工作平台特别是针对线路板切片测量，晶圆检测，金相材料，高分子材料等尺寸较大的样器进行分析检测，本机配备了偏振系统可做偏光检测，在半导体和PCB检测中，可消除杂光，细节更加清晰。同时可以选配DIC干涉附件插入DlC棱镜，可进行DIC微分干涉相衬观察。DIC技术可以使物体表面微小的高低差产生明显的浮雕效果，大幅提高图像对比度，特别适合观察导电粒子。
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CM120BD研究级12寸大平台金相显微镜硅片半导体检测
研究级12寸大平台半导体检查显微镜CM120BD广泛应用于芯片/晶圆/LCD，粒子爆破检查等行业使用。采用半复消技术，集明场，暗场及偏光等多种照明方式，任何观察都能呈现清晰锐利的显微图像，其微分干涉效果可与进口品牌相媲美。用户可根据实际应用进行功能选择，是工业检测的有效工具。特别是针对线路板切片测量，晶圆检测，金相材料，高分子材料等尺寸较大的样器进行分析检测，本机配备了偏振系统可做偏光检测，在半导体和PCB检测中，可消除杂光，细节更加清晰。同时可以选配DIC干涉附件插入DlC棱镜，可进行DIC微分干涉相衬观察。DIC技术可以使物体表面微小的高低差产生明显的浮雕效果，大幅提高图像对比度，特别适合观察导电粒子。
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