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AH系列高精密恒温热台
AH系列显微镜透明恒温热台是我司开发的通用型体式显微镜、倒置显微镜专用热台，适用于国产、进口各型体视显微镜。本产品采用光学级透明发热玻璃，发热均匀，耐磨且具有高透光性，完全不影响观察，保证培养皿内温度维持在37℃，有利于细胞及胚胎发育。
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ATE-25DM高清视频一体3D电子显微镜
ATE-25DM高清2D/3D视频电子显微镜基于无限远光学系统，0.6-5.0X 连续变倍主体，0.5X C接口，工作距离86mm。与11.6寸一体式显示屏连接，高清1920*1080分辨率，操作方便可拍照录像测量，存储在U盘，无需电脑。可广泛应用于微电子、精密电子、精密五金件、深孔壁、生命科学、动植物形态、刑侦鉴定等等行业。
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ATE-25电子工业显微镜3D高清360度全方位观察
一、产品概述 ATE-25三维数码视频显微镜基于无限远光学系统，0.6-5.0X 连续变倍主体，0.5XC接口，工作距离86mm。配备1/2” SONY CMOS图像传感器相机，1920*1080分辨率。可广泛应用于微电子、精密电子、精密五金件、深孔壁、生命科学、动植物形态、刑侦鉴定等等行业
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ATE-35高清3D立体电子显微镜可拍照测量
ATE-35三维数码视频显微镜基于无限远光学系统，0.6-5.0X 连续变倍主体，0.5XC接口，工作距离86mm。配备1/2” SONY CMOS图像传感器相机，1920*1080分辨率。可广泛应用于微电子、精密电子、精密五金件、深孔壁、生命科学、动植物形态、刑侦鉴定等等行业。
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ATE-5高清4K三维2D/3D立体电子显微镜
ATE-5 该三维数码视频显微镜基于无限远光学系统，0.6-5.0X 连续变倍，工作距离86mm。 2D和3D观察可手动自由切换，360 °旋转，物镜观察角度45 °，当切换2D和3D观察时，工作距离保持不变，不用重新调焦，中心位置保持一致，连续变倍每个倍率都是清晰的图像。
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BJ-D便携式现场金相显微镜
BJ-D现场金相显微镜，适用于大型工件的现场金相检验与失效分析。不用切割取样，直接在工件上研磨制样、观察、照像。对工件尤其是成品件不产生损伤。提高金属检验效率、完善工厂产品质量控制。同时也可用于实验室金相观察。本仪器可选购配置CCD相机、WIFI无线相机、电子目镜、金相软件，可方便采集、保存、输入现场的图像进行分析研究。
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BJX-1000现场金相检验显微镜
BJX-1000现场金相显微镜，适用于大型工件的现场金相检验与失效分析。不用切割取样，直接在工件上研磨制样、观察、照像。对工件尤其是成品件不产生损伤。提高金属检验效率、完善工厂产品质量控制。同时也可用于实验室金相观察。本仪器可选购配置CCD相机、WIFI无线相机、电子目镜、金相软件，可方便采集、保存、输入现场的图像进行分析研究。
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BJX-2000便携式现场金相观察显微镜
BJX-2000现场金相显微镜，适用于大型工件的现场金相检验与失效分析。不用切割取样，直接在工件上研磨制样、观察、照像。对工件尤其是成品件不产生损伤。提高金属检验效率、完善工厂产品质量控制。同时也可用于实验室金相观察。
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CM120BD-AF研究级电动12寸大平台半导体芯片晶圆LCD检查金相显微镜
研究级电动12寸大平台半导体检查显微镜CM120BD广泛应用于芯片/晶圆/LCD，粒子爆破检查等行业使用。采用半复消技术，集明场，暗场及偏光等多种照明方式，任何观察都能呈现清晰锐利的显微图像，其微分干涉效果可与进口品牌相媲美。用户可根据实际应用进行功能选择，是工业检测的有效工具。机器采用电动转换器，物理按钮和软件双控，进行远位数调节，12寸大工作平台特别是针对线路板切片测量，晶圆检测，金相材料，高分子材料等尺寸较大的样器进行分析检测，本机配备了偏振系统可做偏光检测，在半导体和PCB检测中，可消除杂光，细节更加清晰。同时可以选配DIC干涉附件插入DlC棱镜，可进行DIC微分干涉相衬观察。DIC技术可以使物体表面微小的高低差产生明显的浮雕效果，大幅提高图像对比度，特别适合观察导电粒子。
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CM120BD研究级12寸大平台金相显微镜硅片半导体检测
研究级12寸大平台半导体检查显微镜CM120BD广泛应用于芯片/晶圆/LCD，粒子爆破检查等行业使用。采用半复消技术，集明场，暗场及偏光等多种照明方式，任何观察都能呈现清晰锐利的显微图像，其微分干涉效果可与进口品牌相媲美。用户可根据实际应用进行功能选择，是工业检测的有效工具。特别是针对线路板切片测量，晶圆检测，金相材料，高分子材料等尺寸较大的样器进行分析检测，本机配备了偏振系统可做偏光检测，在半导体和PCB检测中，可消除杂光，细节更加清晰。同时可以选配DIC干涉附件插入DlC棱镜，可进行DIC微分干涉相衬观察。DIC技术可以使物体表面微小的高低差产生明显的浮雕效果，大幅提高图像对比度，特别适合观察导电粒子。
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CM40BD-AF电动研究级材料检测显微镜
电动研究级材料检测显微镜CM40BD-AF采用全新半复消技术，集明场，暗场及偏光等多种照明方式，任何观察都能呈现清晰锐利的显微图像，根据实际应用进行功能选择，是工业检测的有效工具。机器采用电动转换器，物理按钮和软件双控，进行远位数调节。特别是针对中小尺寸的半导体FPD检查，线路板切片测量，晶圆检测同时该产品还适用于金相材料，高分子材料的分析检测，本机配备了偏振系统包括了起偏镜插板和检偏镜插板，可做偏光检测，在半导体和PCB检测中，可消除杂光，细节更加清晰。360度旋转式检偏器可以在不移动标本的情况下，方便的观察标本在不同偏振角度光线下呈现的状态.同时可以在在正交偏光的基础上，插入DlC棱镜，可进行DIC微分干涉相衬观察。DIC技术可以使物体表面微小的高低差产生明显的浮雕效果，大幅提高图像对比度，特别适合观察导电粒子。
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CM40BD研究级材料检测显微镜
研究级材料检测显微镜CM40BD采用全新半复消技术，集明场，暗场及偏光等多种照明方式，任何观察都能呈现清晰锐利的显微图像，或根据实际应用进行功能选择，是工业检测的有效工具。特别是针对中小尺寸的半导体FPD检查，线路板切片测量，晶圆检测同时该产品还适用于金相材料，高分子材料的分析检测，本机配备了偏振系统包括了起偏镜插板和检偏镜插板，可做偏光检测，在半导体和PCB检测中，可消除杂光，细节更加清晰。360度旋转式检偏器可以在不移动标本的情况下，方便的观察标本在不同偏振角度光线下呈现的状态.同时可以在在正交偏光的基础上，插入DlC棱镜，可进行DIC微分干涉相衬观察。DIC技术可以使物体表面微小的高低差产生明显的浮雕效果，大幅提高图像对比度，特别适合观察导电粒子。
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CM60BD-AF电动研究及金相显微镜晶圆检测半导体FPD检查
电动研究级材料检测显微镜CM60BD-AF采用全新半复消技术，集明场，暗场及偏光等多种照明方式，任何观察都能呈现清晰锐利的显微图像，或根据实际应用进行功能选择，是工业检测的有效工具。机器采用电动转换器，物理按钮和软件双控，进行远位数调节。6寸大平台特别是针对大尺寸的半导体FPD检查，线路板切片测量，晶圆检测同时该产品还适用于金相材料，高分子材料的分析检测，本机配备了偏振系统包括了起偏镜插板和检偏镜插板，可做偏光检测，在半导体和PCB检测中，可消除杂光，细节更加清晰。360度旋转式检偏器可以在不移动标本的情况下，方便的观察标本在不同偏振角度光线下呈现的状态.同时可以在在正交偏光的基础上，插入DlC棱镜，可进行DIC微分干涉相衬观察。DIC技术可以使物体表面微小的高低差产生明显的浮雕效果，大幅提高图像对比度，特别适合观察导电粒子。
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CM60BD研究级金相材料检测显微镜
研究级材料检测显微镜CM60BD采用全新半复消技术，集明场，暗场及偏光等多种照明方式，任何观察都能呈现清晰锐利的显微图像，或根据实际应用进行功能选择，是工业检测的有效工具。配有6寸大平台特别是针对大尺寸的半导体FPD检查，线路板切片测量，晶圆检测同时该产品还适用于金相材料，高分子材料的分析检测，本机配备了偏振系统包括了起偏镜插板和检偏镜插板，可做偏光检测，在半导体和PCB检测中，可消除杂光，细节更加清晰。360度旋转式检偏器可以在不移动标本的情况下，方便的观察标本在不同偏振角度光线下呈现的状态.同时可以在在正交偏光的基础上，插入DlC棱镜，可进行DIC微分干涉相衬观察。DIC技术可以使物体表面微小的高低差产生明显的浮雕效果，大幅提高图像对比度，特别适合观察导电粒子。
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CM80BD-AF电动研究级金相显微镜晶圆检测半导体FPD检查
电动研究级材料检测显微镜CM80BD-AF采用全新半复消技术，集明场，暗场及偏光等多种照明方式，任何观察都能呈现清晰锐利的显微图像，或根据实际应用进行功能选择，是工业检测的有效工具。机器采用电动转换器，物理按钮和软件双控，进行远位数调节。8寸大平台特别是针对大尺寸的半导体FPD检查，线路板切片测量，晶圆检测同时该产品还适用于金相材料，高分子材料的分析检测，本机配备了偏振系统包括了起偏镜插板和检偏镜插板，可做偏光检测，在半导体和PCB检测中，可消除杂光，细节更加清晰。360度旋转式检偏器可以在不移动标本的情况下，方便的观察标本在不同偏振角度光线下呈现的状态.同时可以在在正交偏光的基础上，插入DlC棱镜，可进行DIC微分干涉相衬观察。DIC技术可以使物体表面微小的高低差产生明显的浮雕效果，大幅提高图像对比度，特别适合观察导电粒子。
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CM80BD研究级高分子材料检测显微镜
研究级材料检测显微镜CM80BD采用全新半复消技术，集明场，暗场及偏光等多种照明方式，任何观察都能呈现清晰锐利的显微图像，或根据实际应用进行功能选择，是工业检测的有效工具。配有8寸大平台特别是针对大尺寸的半导体FPD检查，线路板切片测量，晶圆检测同时该产品还适用于金相材料，高分子材料的分析检测，本机配备了偏振系统包括了起偏镜插板和检偏镜插板，可做偏光检测，在半导体和PCB检测中，可消除杂光，细节更加清晰。360度旋转式检偏器可以在不移动标本的情况下，方便的观察标本在不同偏振角度光线下呈现的状态.同时可以在在正交偏光的基础上，插入DlC棱镜，可进行DIC微分干涉相衬观察。DIC技术可以使物体表面微小的高低差产生明显的浮雕效果，大幅提高图像对比度，特别适合观察导电粒子。
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CMD-2010M工具测量显微镜
CMD系列工具显微镜，是一种集软件、光、机、电一体的高精度、高效率的显微测量仪器，是同时具有高精度线性测量和观察功能的多功能量测仪器； CMD-2010M主体机构通过搭配MT三目光学测量镜筒、高清数字相机、照明装置、升降机构及对焦机构，具有多种数据测量、显微放大、显示输入和输出等数据处理功能。
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CMD-3020M工具测量显微镜
CMD-3020M系列工具显微镜，是一种集软件、光、机、电一体的高精度、高效率的显微测量仪器，是同时具有高精度线性测量和观察功能的多功能量测仪器； 本机主体机构通过搭配MT三目光学测量镜筒、高清数字相机、照明装置、升降机构及对焦机构，具有多种数据测量、显微放大、显示输入和输出等数据处理功能。
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CMM-1010D系列Z轴电动手脉工业测量显微镜
本司新推出的Z軸電動手脈工业測量顯微鏡，使用專業訂制的高精准細分脈衝工业測量電機，通過設置多種脈衝細分量和機構上的精准調校，可以實現快中慢三檔調速來控制Z軸光學鏡頭上下移動
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CMM-2020D系列Z轴电动手脉工业测量显微镜
本司最新推广出的Z轴电动手脉工业测量显微镜，独家使用专业订制的高精准细分脉衝工业测量电机，通过设置多种脉衝细分量和机构上的精准调校，可以实现快中慢三档调速来控制Z轴光学镜头上下移动；而在选择低速档时，我们让电机脉衝量的最小化设置跟传动机构的最优化调校，可以保证Z轴上下移动时，精细到1µM（甚至更低的解析度）每格（手脉刻度），而有效地杜绝了了目前市场上主流工业测量显微镜在高倍率使用下的通病不再发生（高倍下无法定准对焦面，使用手动Z轴调焦齿轮打滑等等现象！）
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Z轴电动手脉工业测量显微镜CMM-3030D(明暗场物镜)大理石台面
Z轴电动手脉工业测量显微镜CMM-3030D(明暗场物镜)大理石台面使用专业订制的高精准细分脉冲工业测量电机，通过设置多种脉冲细分量和机构上的精准调校，可以实现快中慢三档调速来控制Z轴光学镜头上下移动；而在选择低速档时，我们让电机脉冲量的最小化设置跟传动机构的优化调校，可以保证Z轴上下移动时，精细到1UM（甚至更低的分辨率）每格（手脉刻度），而有效地杜绝了了目前市场上主流工业测量显微镜在高倍率使用下的通病不再发生（高倍下无法定准对焦面，使用手动Z轴调焦齿轮打滑等等现象！）
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DM-9608体视显微镜底光源
本产品，采用先进的微处理器技术和算法,实现灯光的PWM线性调光.使灯光柔和自然无频闪，光色不失真，使用寿命长，节能省电等优点.采用灯头与控制器分体设计,同一接口的灯头互相兼容。
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DMS1000系列3D超景深数码显微系统
3D超景深数码显微镜DMS1000是一款集电动化、数码化、智能化为一体，拥有全方位的观测角度和多种照明方式，其更大的景深、更宽的视野以及更高的放大倍率，让表面微观形貌观察和分析工作更快捷方便，搭载自主研发的图像处理算法，能够轻松应对各种观测应用场景，确保图像的清晰度和量测数据的准确性。
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DTE-25 电动3D观察显微镜,可360°旋转
具有较长的工作距离，宽阔的视野，高清晰度的成像质量。支持2D,3D两种观察方式，实时图像观察，360°旋转观察，使单侧物体易于全方位观察，呈现多方位，更真实立体。主要应用于电子元器件、精密五金、深孔壁、生物科学、动植物形态、刑侦鉴定等行业。适合传统2D显微镜下不易观察到的三维立体图像，珠宝行业检验和学校示教使用。
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