Zeiss 推出SEM自动粒子分析软件
新闻资讯Carl Zeiss 近期推出了Smart Particle Investigator (SmartPI TM)软件包，这一用于ZEISS 扫描电子显微镜的软件可以自动对感兴趣的例子进行检测，研究及定性。
SmartPI TM 可控制 SEM 的所有可控部件，另外还可进行图像加工，检测及定性粒子的能量弥散X射线研究。这一软件可进行高度自动化的重复试验，实验过程中，允许连续的无人操作以减小人为因素对实验造成的影响。软件自带的自动校准及诊断功能保证了实验结果的准确性及系统的稳定性，另外，软件设有高级的终止检测程序可允许在分析达到预设的阈值时自动终止，这一设计大大的缩短了分析时间。
Smart PI TM 的应用十分广泛，包括质量控制，磨损分析，地质勘探，矿物开采，法医学，环境监控等领域。
使用简单
特殊的简易化设计，有预设的分析程序，操作者只需放入样品即可，另外还允许资深操作者创建更适用的新程序以满足特殊的实验需求。所有程序，系统设置及实验结果都储存在文档中以便于回顾及输出。
边界粒子拼接
SmartPI TM 软件包特性程序，可允许跨越视野的粒子的检测及测量，拼接结果可储存回顾。
工业粒子过滤的X射线分析及化学分类。X射线光谱的主要特性可指出污染的来源。